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实验室遍布全国,就近分配
可加急,最快1.5个工作日(特殊样品除外)
CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
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152-0173-3840
检测标准:电子组件失效分析程序与方法 FX01-JE2-5-2010 3.2
检测对象:电子组件
检测项目:非破坏性分析
破坏性物理分析 AEC-Q101-004:1996 第四章 (DPA)
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