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CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
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检测标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 2052
检测对象:电子元器件
检测项目:颗粒碰撞噪声检测试验
检测标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法2020.1
检测标准:电子及电气元件试验方法 GJB65B-1999 附录B
颗粒碰撞噪声检测 GJB 65B-1999 电磁继电器总规范 GJB65B-1999 附录B
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颗粒碰撞噪声检测试验 GJB 65B-1999 电子及电气元件试验方法 GJB65B-1999 附录B
颗粒碰撞噪声检测试验 GJB128A-1997 2052 半导体分立器件试验方法
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