检测地点
检测周期
报告资质
样品及邮寄要求
价格
实验室遍布全国,就近分配
可加急,最快1.5个工作日(特殊样品除外)
CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
电议(检测的标准和检测项目数量不同而价格不同)
检测标准:军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目1103
检测对象:塑封微电子器件
检测项目:玻璃钝化层完整性
检测标准:电子、电磁和机电元器件破坏性物理分析 MIL-STD-1580B-2014 要求16.5
检测对象:塑封微电子器件
检测项目:玻璃钝化层完整性
检测标准:微电路试验方法标准方法 MIL-STD-883K-2016 方法2021.3
检测对象:塑封微电子器件
检测项目:玻璃钝化层完整性
检测标准:微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法 2021
检测对象:塑封微电子器件
检测项目:玻璃钝化层完整性
检测标准:微电路试验方法标准方法
检测对象:塑封微电子器件
检测项目:玻璃钝化层完整性
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