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检测标准:半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法
检测对象:光电耦合器
检测项目:电流传输比(hF(ctr))
电流传输比(hF(ctr)) GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法
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电流传输比(h<sub>F(ctr)</sub>) GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法
电流传输比CTR SJ/T 2215-2015 半导体光电耦合器测试方法
电流传输比h<Sub>F(ctr)</Sub> GB/T 15651.2-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-2部分:光电子器件 基本额定值和特性
电流传输比<I>h</I><Sub>F(ctr)</Sub> GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法
电流传输比 SJ 2215.10-1982 半导体光耦合器直流电流传输比的测试方法
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