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检测标准:半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
检测对象:数字集成电路
检测项目:电路电源端总电流I<sub> DD </sub>
电路电源端总电流I<sub> DD </sub> GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
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工作状态时<I>V</I><Sub>DD</Sub>电源电流<I> I</I><Sub>DD</Sub> SJ/T 10739-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理
维持状态时<I>V</I><Sub>DD</Sub>电源电流<I> I</I><Sub>DDS</Sub> SJ/T 10739-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理
待机状态电源电流<I>I</I><I><Sub>DD</Sub></I> GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
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