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CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
电议(检测的标准和检测项目数量不同而价格不同)
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152-0173-3840
检测标准:半导体器件 第16-1部分:微波集成电路 放大器
检测对象:微波集成电路放大器
检测项目:线性(功率)增益平坦度
检测标准:IEC 60747-16-1:2001第5.2、5.3、5.9、5.10、5.13条
检测对象:放大器
功率增益平坦度 GJB 8125-2013 微波电路放大器测试方法 GJB8125-2013 5.3
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线性(功率)增益平坦度 IEC 60747-1 6-1:2001第5.2、5.3、5.9、5.10、5.13条
线性功率增益平坦度 GJB 8125-2013 微波电路放大器测试方法 GJB8125-2013 5.5
线性(功率)增益平坦度 GB/T 20870.1-2007 半导体器件 第16-1部分:微波集成电路 放大器
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线性误差E<Sub>L</Sub
线性误差EL检测
线性误差EL(INL)检测
线性误差温度系数检测
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线性轴的定位精度检测
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线性(功率)增益检测
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