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实验室遍布全国,就近分配
可加急,最快1.5个工作日(特殊样品除外)
CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
电议(检测的标准和检测项目数量不同而价格不同)
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152-0173-3840
检测标准:半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
检测对象:半导体集成电路MOS随机存储器
检测项目:维持状态时电源电流
维持状态时<I>V</I><Sub>DD</Sub>电源电流<I> I</I><Sub>DDS</Sub> SJ/T 10739-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理
咨询报价
维持状态时 VDD 电源电流 IDDS SJ/T 10739-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理
维持状态时 VCC 电源电流 ICCS SJ/T 10739-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理
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维护附加的要求检测
维护(所有设备类别)检测
维持CRI检测
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