老炼和寿命试验（IGBT)检测

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老炼和寿命试验（IGBT)检测

相关标准

检测标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1042

检测对象：半导体分立器件筛选

检测项目：老炼和寿命试验（IGBT)

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