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检测标准:半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管 第一篇 1GHz、5W以下的单栅场效应晶体管空白详细规范
检测对象:半导体分立器件
检测项目:规定栅源条件下的漏极电流
栅—源短路时的漏极电流<I>I</I><Sub>DSS</Sub> GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管
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栅-源短路时的漏极电流 GB/T 4586-94 半导体器件 分立器件第8部分:场效应晶体管 第IV章 测试方法
在规定压缩载荷和温度条件下变形 ISO 29764-2008 建筑物用绝热产品 在指定压缩载荷和温度条件下变形的测定
规定栅源条件下的漏极电流 GB/T 6219-1998 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管 第一篇 1GHz、5W以下的单栅场效应晶体管空白详细规范
零栅压时的漏极电流IDSS GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管
栅-源短路时的漏极电流 GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管
在规定压缩载荷和温度条件下变形 GB/T 33002-2016 建筑用绝热制品 在规定压缩载荷和温度条件下变形的测定
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规定延伸强度检测
规定弯曲负荷(SCL)验证检测
规定总延伸强度检测
规定总延伸强度/屈服强度(总延伸
规定总延伸强度的测定检测
规定总延伸强度( Rt)检测
规定总延伸长强度检测
规定拉伸负荷(STL)验证检测
规定时间的影响效果检测
规定最低平均持续时间符合性检查检
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