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检测标准:半导体器件 分立器件 第6部分:闸流晶体管 第一篇 100A以下环境或管壳额定反向阻断三极闸流晶体管空白详细规范
检测对象:半导体分立器件
检测项目:规定高温下的反向重复峰值电流
反向和断态重复峰值电流 JB/T 8950.2-2013 普通晶闸管 第2部分:平板形器件
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在规定高温下的反向重复峰值电流 GB/T 6352-1998 半导体器件 分立器件 第6部分:闸流晶体管 第一篇 100A以下环境或管壳额定反向阻断三极闸流晶体管空白详细规范
反向/断态重复峰值电流 JB/T 7826.2-1996 MTQ(MFQ)系列晶闸管单相桥模块
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反向重复峰值电流 JB/T 8949.2-2013 普通整流管 第2部分:平板形器件
反向重复峰值电流 JB/T 8949.1-2013 普通整流管 第1部分:螺栓形器件
反向重复峰值电流IRRM GB/T 15291-2015 半导体器件 第6部分:晶闸管
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规定非比例延伸检测
规定非比例延伸力)强度(检测
规定非比例延伸力/规定非比例延伸
规定非比例延伸力(屈服力)检测
规定非比例延伸强度(0.2%)检
规定非比例延伸强度/规定塑性延伸
规定非比例延伸强度<I>R</I
规定非比例延伸强度(0.2%)检
规定非比例延伸率检测
规定非比例延展性 强度检测
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