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检测标准:半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测对象:模拟集成电路
检测项目:触发电流I<Sub>TR</Sub>
复位触发电流I<Sub>R</Sub> GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
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门极触发直流电流I<Sub>GT</Sub> GB/T 15291-2015 半导体器件 第6部分:晶闸管
触发电压<I>V</I><I><Sub>TR</Sub></I> GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
复位触发电流<I>I</I><I><Sub>R</Sub></I> GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
触发电压<I>V</I><Sub>TR</Sub> GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
触发电流<I>I</I><Sub>TR</Sub> GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
触发电流I<Sub>TR<Sub> GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
触发电压V<Sub>TR </Sub> GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
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触发电压V<Sub>TR检测
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触发电流检测
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触发电流I<Sub>TR检测
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