检测地点
检测周期
报告资质
样品及邮寄要求
价格
实验室遍布全国,就近分配
可加急,最快1.5个工作日(特殊样品除外)
CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
电议(检测的标准和检测项目数量不同而价格不同)
24小时咨询电话
152-0173-3840
检测标准:半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
检测对象:SRAM型现场可编程门阵列
检测项目:静态内核电源电流
内核C-2 ___ EMV支付系统非接规范 Book C-2规范 2-8,附录 A,B,C,D,E
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内核C-7 ___ EMV支付系统非接规范 Book C-7规范 2-4,附录 A,B
配置数据能保持的最低内核电源电压(VDRINT) SJ/T 11706-2018 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
静态内核电源电流 SJ/T 11706-2018 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
内核C-5 ___ EMV支付系统非接规范 Book C-5规范 2-4,附录 A,B,C,D,E
待机静态电流 DB44/T 1662-2015 USB接口类移动电源 技术要求
静态消耗电流 S 0001-2014 USB 接口类移动电源 CIAP 4.2.2.4
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