位错密度测试标准
GB/T 5252-2020锗单晶位错密度的测试方法
GB/T 8760-2006砷化镓单晶位错密度的测量方法
GB/T 32282-2015氮化镓单晶位错密度的测量 阴*荧光显微镜法
GB/T 33763-2017蓝宝石单晶位错密度测量方法
GB/T 34481-2017低位错密度锗单晶片腐蚀坑密度(EPD)的测量方法
SJ/T 10557.3-1994电解电容器用铝箔平均位错密度测量方法
SJ/T 11489-2015低位错密度磷化铟抛光片蚀坑密度的测量方法
SJ/T 11490-2015低位错密度砷化镓抛光片蚀坑密度的测量方法
以上文章内容为部分列举，更多检测需求及详情免费咨询机构在线顾问：15201733840(电话及微信)，做检测上百检网-出具权威检测报告具有法律效力。
.png)
