晶片测试标准
GB/T 5238-2019锗单晶和锗单晶片
GB/T 13387-2009硅及其它电子材料晶片参考面长度测量方法
GB/T 16595-2019晶片通用网格规范
GB/T 16596-2019确定晶片坐标系规范
GB/T 25188-2010硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法
GB/T 26066-2010硅晶片上浅腐蚀坑检测的测试方法
GB/T 26070-2010化合物半导体抛光晶片亚表面损伤的反射差分谱测试方法
GB/T 26071-2018太阳能电池用硅单晶片
GB/T 30118-2013声表面波(SAW)器件用单晶晶片规范与测量方法
GB/T 30866-2014碳化硅单晶片直径测试方法
GB/T 30867-2014碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法
GB/T 30868-2014碳化硅单晶片微管密度的测定 化学腐蚀法
GB/T 32278-2015碳化硅单晶片平整度测试方法
GB/T 32988-2016人造石英光学低通滤波器晶片
GB/T 34481-2017低位错密度锗单晶片腐蚀坑密度(EPD)的测量方法
百检网测试有什么优势?为什么要选择百检网?
1、百检网是集体所有制测试机构。
2、免费初检，初检期间不收取测试费用。
3、全国多家实验室分支，支持上门取样/寄样测试。
4、测试周期短，测试费用，实验方案齐全。
5、资质齐全，实验室仪器齐全，科研团队强大。
6、36种语言支持编写MSDS服务
百检网寄样测试流程
1、寄样
2、免费初检
3、报价
4、双方确定，签订保密协议，开始实验
5、3-5个工作日完成实验
6、出具测试报告，后期服务。
以上是关于晶片测试的相关介绍，如有其他测试需求可以咨询实验室工程师帮您解答。
以上文章内容为部分列举，更多检测需求及详情免费咨询机构在线顾问：152 0173 3840（电话及微信），做检测上百检网-出具权威检测报告具有法律效力。
