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CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
电议(检测的标准和检测项目数量不同而价格不同)
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152-0173-3840
检测标准:半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 1031
检测对象:元器件试验
检测项目:温度贮存
检测标准:电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法108
检测标准:微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 1008.1
元器件 '040705
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电子及电气元器件振动试验 GJB 360B-2009 电子及电气元器件试验方法
电子及电气元器件高温试验 GJB 360B-2009 电子及电气元器件试验方法
电子及电气元器件耐湿试验 GJB 360B-2009 电子及电气元器件试验方法
电子及电气元器件冲击试验 GJB 360B-2009 电子及电气元器件试验方法
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