高压蒸煮试验检测

检测标准：基于集成电路应力测试认证的失效机理 AEC-Q100H-2014 A3

检测对象：电子半导体产品和系统

检测项目：高压蒸煮试验

检测标准：基于离散半导体元件应力测试认证的失效机理 AEC-Q101D1-2013 8alt

检测对象：电子半导体产品和系统

检测项目：高压蒸煮试验

检测标准：无偏置电压高压力蒸煮 JESD22-A102E-2015

检测对象：电子半导体产品和系统

检测项目：高压蒸煮试验

检测标准：加速防潮试验-无偏压高压蒸煮 JEDEC JESD22-A102E 2015

检测对象：电子元器件

检测项目：高压蒸煮试验

检测标准：环境试验 第2部分:试验方法 试验Cx:未饱和高压蒸汽恒定湿热

检测对象：电工电子产品

检测项目：高压蒸煮试验

检测标准：合格制造厂认证用半导体集成电路通用规范 GJB7400-2011 4.4

检测对象：电工电子产品

检测项目：高压蒸煮试验

检测标准：试验方法 试验Cx：未饱和高压蒸汽恒定湿热 IEC60068-2-66-1994

检测对象：电工电子产品

检测项目：高压蒸煮试验

检测标准：加速耐湿性试验-不加电蒸煮 JESD22-A102E:2015

检测对象：电子元器件

检测项目：高压蒸煮试验