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实验室遍布全国,就近分配
可加急,最快1.5个工作日(特殊样品除外)
CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
电议(检测的标准和检测项目数量不同而价格不同)
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152-0173-3840
检测标准:JS-1 集成电路卡模块技术规范 SJ-T 13656-2005 4.1.9、F2.3.2
检测对象:JS-1集成电路卡及模块
检测项目:高温存储寿命
检测标准:高温存储寿命 JESD22-A103E
检测对象:微电子器件
检测标准:高温存储寿命 JESD22-A103E:2015
检测对象:集成电路
寿命试验 JESD22-A103E:2010 《高温存储寿命》
咨询报价
高温存储寿命试验 JEDEC JESD22-A103E 2015
低温存储寿命试验 JESD22-A119A:2015
高温存储寿命试验 JESD22-A103E:2015
高温存储寿命 JESD22-A103E
高温存储寿命试验 JESD22-A103E.01:2021
高温存储寿命试验 JEDEC JESD22-A103E-2015 高温存储寿命测试
高温存储寿命试验 JESD22-A108F-2017 高温偏压寿命试验
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