X射线衍射仪(XRD) 测试

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RD 即X-ray diffraction 的缩写,中文翻译是X射线衍射,通过对材料进行X射线衍射,分析其衍射图谱,获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。用于确定晶体结构。其中晶体结构导致入射X射线束衍射到许多特定方向。 通过测量这些衍射光束的角度和强度,晶体学家可以产生晶体内电子密度的三维图像。 根据该电子密度,可以确定晶体中原子的平均位置,以及它们的化学键和各种其他信息。


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