硅片测试

检测地点

检测周期

报告资质

样品及邮寄要求

价格

实验室遍布全国,就近分配

可加急,最快1.5个工作日(特殊样品除外)

CMA、CNAS、CAL

样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定

电议(检测的标准和检测项目数量不同而价格不同)

百检网 急速响应
百检网 全程跟踪
百检网 品质严保
微信扫一扫
百检网

24小时咨询电话

152-0173-3840

电话咨询
服务详情

硅片测试标准

GB/T 29055-2019 太阳能电池用多晶硅片

GB/T 26068-2018 硅片和硅锭载流子复合寿命的测试 非接触微波反射光电导衰减法

GB/T 37051-2018 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法

GB/T 32814-2016 硅基MEMS制造技术 基于SOI硅片的MEMS工艺规范

GB/T 24578-2015 硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法

GB/T 32280-2015 硅片翘曲度测试自动非接触扫描法

GB/T 32281-2015 太阳能级硅片和硅料中氧、碳、硼和磷量的测定 二次离子质谱法

GB/T 30859-2014 太阳能电池用硅片翘曲度和波纹度测试方法

GB/T 30860-2014 太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法

GB/T 30869-2014 太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化 测试方法

GB/T 30701-2014 表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定

GB/T 29505-2013 硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法

GB/T 29507-2013 硅片平整度、厚度及总厚度变化测试 自动非接触扫描法

GB/T 6616-2009 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法

GB/T 6617-2009 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法

GB/T 6618-2009 硅片厚度和总厚度变化测试方法

GB/T 6619-2009 硅片弯曲度测试方法


以上文章内容为部分列举,更多检测需求及详情免费咨询机构在线顾问:152 0173 3840(电话及微信),做检测上百检网-出具权威检测报告具有法律效力。