百检网研究所在TOF-SIMS分析检测服务领域经验丰富，可出具CMA资质，拥有规范的工程师团队。百检网研究所始终以科学研究为主，以客户为中心，在严格的程序下开展检测分析工作，为客户提供检测、分析、还原等一站式服务，检测报告可通过一键扫描查询真伪。
检测费用：免费初检，根据客户检测需求以及实验复杂程度进行报价。
检测周期：3-5个工作日出具检测报告。
联系电话：400-101-7153或者
TOF-SIMS分析检测用途
掺杂剂与杂质的深度剖析
薄膜的成份及杂质测定 (金属、电介质、锗化硅 、III-V族、II-V族)
超薄薄膜、浅植入的超高深度辨析率剖析
硅材料整体分析，包含B, C, O,以及N
工艺工具(离子植入)的高精度分析
TOF-SIMS分析检测范围
可对H-U元素进行定性分析(定量需标样)，检测*限可达ppm或更低的浓度。
良好的深度分辨率(0.1-1nm)，但溅射速率很慢(<1μm/H)。
*小小面积分析，小区域可达直径80nm。
可分析有机物，能直接输出有机物分子式;
可对元素进行面分布分析。
TOF-SIMS分析检测标准
ASTM E1156 0190 2607-2011:报告次级离子质谱法(SIMS)中溅射深度截面数据的标准实施规程
ASTM E1438-2011:用次级离子质谱法(SIMS)测量深度掺杂分布界面宽度标准指南
百检网研究所检测优势实力
保障：集体所有制科研所，科研项目全。
免费初检：免费进行初检，让您检测无忧。
周期更短：3-5个工作日可出具检测报告。
优质服务：工程师1对1服务，全程项目跟进。
技术先进：博士团队，欧美进口设备300余台。
严谨公正：公检法部门合作单位，科学准确。
多家分部：接受全国上门取样/寄样服务。
一键查询：支持扫描查询真伪，报告认可度高。
百检网研究所报告用途
销售：出具检测报告，提成产品竞争力。
研发：缩短研发周期，降低研发成本。
质量：判定原料质量，减少生产风险。
诊断：找出问题根源，改善产品质量。
科研：定制完整方案，提供原始数据。
竞标：报告认可度高，提高竞标成功率。
百检网研究所检测流程
1、咨询工程师，提交检测需求。
2、送样/邮递样品。
3、免费初检，进行报价。
4、签订合同和保密协议。
5、进行方案定制、实验。
6、出具实验结果和检测报告。
7、更多增值服务。
因为网站篇幅有限，只列举了部分的检测范围和项目。详情请拨打免费热线：400-101-7153，将会有工程师为您1对1解答。百检网研究所检测实验室，将会为您提供较优质的检测服务!
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