零栅压时的漏极电流I<Sub>D</Sub><Sub>S</Sub><Sub>S</Sub>检测

热解分析 （T<Sub>max</Sub>、S<Sub>1</Sub>、S<Sub>2</Sub>） GB/T 18602-2012 岩石热解分析

I<Sub>B</Sub>=0时的集电极发射极截止电流<I>I</I><Sub>CEO</Sub> GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管

栅—源短路时的漏极电流<I>I</I><Sub>DSS</Sub> GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管

I<SUB>DSX</SUB>:漏极关断电流/I<SUB>DS*</SUB>:漏极漏电流 IEC 60747-8-2010 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管

截止态漏极漏电流I<Sub>D</Sub><Sub>（</Sub><Sub>off</Sub><Sub>）</Sub> GB/T 14028-2018 半导体集成电路 模拟开关测试方法

含量[(NH<Sub>4</Sub>)<Sub>2</Sub>S<Sub>2</Sub>O<Sub>8</Sub>] GB/T 655-2011 化学试剂 过硫酸铵

热解分析（T<Sub>max</Sub>、S<Sub>1</Sub>、S<Sub>2</Sub>、S<Sub>3</Sub>） GB/T 18602-2012 岩石热解分析

(绝缘栅增强型I_DSS)或(结栅型,绝缘栅耗尽型):漏极关断电流I_DSX IEC 60747-8 半导体器件.分立器件.第8部分:场效应晶体管 (Edition 3.0 2010-12) 6.3.3

岩石热解分析（S<SUB>1</SUB>、S<SUB>2</SUB>、Tmax GB/T 18602-2012 岩石热解分析

零栅压时的漏极电流I<Sub>D</Sub><Sub>S</Sub><Sub>S</Sub> GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管