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实验室遍布全国,就近分配
可加急,最快1.5个工作日(特殊样品除外)
CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
电议(检测的标准和检测项目数量不同而价格不同)
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152-0173-3840
检测标准:温度、偏置和工作寿命 JEDEC JESD22-A108F-2017
检测对象:电子元器件
检测项目:高温工作寿命试验
检测标准:电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法108
检测标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1005.1
高温试验 JEDEC JESD22-A108F-2017 高温环境条件下的工作寿命试验
咨询报价
高温试验 JESD22-A108F:2017 温度、偏置、工作寿命 4.2.3
高温工作寿命试验 JEDEC JESD22-A108F-2017 温度、偏置和工作寿命
高温 JESD 22-A108F-2017 偏压工作寿命
高温寿命(非工作) MIL-STD-750E:20061031.5 半导体分立器件试验方法标准方法
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高温寿命检测
高温寿命试验/老炼试验检测
高温寿命(非工作)检测
高温寿命(非工作)(抽样方案)检
高温工作、低温工作检测
高温工作及通讯显示检测
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