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价格
实验室遍布全国,就近分配
可加急,最快1.5个工作日(特殊样品除外)
CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
电议(检测的标准和检测项目数量不同而价格不同)
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152-0173-3840
检测标准:早期寿命失效率 AEC-Q100-008-REV-A:2003 3.2
检测对象:集成电路
检测项目:高温早期失效测试
检测标准:温度偏置寿命实验 JESD22-A108F:2017 4
检测标准:IC集成电路压力测试考核 JESD47K :2018 5.5 表 5-1
早期失效率试验 AEC-Q100-008 REV-A:2003
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高温早期失效测试 JESD47K :2018 IC集成电路压力测试考核 5.5 表 5-1
高温早期失效测试 AEC-Q100-008-REV-A:2003 早期寿命失效率 3.2
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