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价格
实验室遍布全国,就近分配
可加急,最快1.5个工作日(特殊样品除外)
CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
电议(检测的标准和检测项目数量不同而价格不同)
24小时咨询电话
152-0173-3840
检测标准:可写可擦除的永久性记忆的耐久性、资料保持及工作寿命的测试 AEC-Q100-005-REV-D1:2012 3.4
检测对象:集成电路
检测项目:高温循环擦写后的高温工作寿命测试
高温循环寿命 GB/T 23366-2009 钴酸锂电化学性能测试 放电平台容量比率及循环寿命测试方法
咨询报价
未经循环擦写的高温数据保持能力测试 JESD47K :2018 IC集成电路压力测试考核 5.5 表 5-1a
高温循环擦写耐力测试 JESD47K :2018 IC集成电路压力测试考核 5.5 表 5-1a
高温 JESD 22-A108F-2017 偏压工作寿命
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高温循环擦写后的超高温数据保持能
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