集电极-发射极维持电压V<Sub>CEO(sus)</Sub>检测

集电极-发射极截止电流 <I>I</I><Sub>CEO</Sub> SJ/T 2215-2015 半导体光电耦合器测试方法

集电极—发射极的击穿电压<I>V</I><Sub>(BR)CEO</Sub> GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管

集电极-发射极电压V<Sub>CEO </Sub> MIL-STD-750F 半导体器件的试验方法 标准试验方法 3030

集电极-发射极击穿电压（V(BR)_CEO) GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 方法3011

集电极-发射极击穿电压V<Sub>（BR）CEO SJ/T 2215-2015 半导体光电耦合器测试方法

集电极-发射极维持电压V<Sub>CEO(sus)</Sub> GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管

集电极-发射极击穿电压(基极开路)<I>V</I><Sub>（BR）CEO</Sub> GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 3011

集电极-发射极击穿电压V<Sub>（BR）CEO</Sub> GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 3011

集电极-发射极击穿电压V<Sub>(BR)CEO</Sub> GB/T 128A-1997 半导体分立器件试验方法 方法3011