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检测标准:半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
检测对象:双极型晶体管
检测项目:集电极-基极击穿电压(<I>V</I><Sub>(BR)CBO</Sub>)
I<Sub>E</Sub>=0时的集电极基极击穿电压<I>V</I><Sub>(BR)CBO</Sub> GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
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集电极-基极击穿电压<I>V</I><Sub>(BR)CBO</Sub> GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
集电极-发射极击穿电压(基极开路)<I>V</I><Sub>(BR)CEO</Sub> GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 3011
集电极-基极击穿电压(<I>V</I><Sub>(BR)CBO</Sub>) GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
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