检测地点
检测周期
报告资质
样品及邮寄要求
价格
实验室遍布全国,就近分配
可加急,最快1.5个工作日(特殊样品除外)
CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
电议(检测的标准和检测项目数量不同而价格不同)
检测标准:半导体器件 分立器件 第9部分:绝缘栅双极晶体管(IGBT)
检测对象:绝缘栅双极晶体管
检测项目:高温阻断(HTRB)
检测标准:半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分:高温工作寿命
检测对象:半导体器件
检测项目:高温阻断(HTRB)
检测标准:半导体器件-分立器件-第8部分: 场效应晶体管 IEC 60747-8 Ed. 3.0 b:2010 7.3.1
检测对象:场效应晶体管
检测项目:高温阻断(HTRB)
检测标准:半导体器件 分立器件 第9部分:绝缘栅双极晶体管(IGBT) GB/T 29332-2012IEC 60747-9 Ed. 2.0 :2007 7.2.5.1
检测对象:绝缘栅双极晶体管
检测项目:高温阻断(HTRB)
检测标准:半导体器件 第9部分:分立器件 绝缘栅双极晶体管(IGBTs) IEC 60747-9 Edition 3.0 :2019 7.2.5.1
检测对象:绝缘栅双极晶体管
检测项目:高温阻断(HTRB)
检测标准:半导体器件 分立器件 第9部分:绝缘栅双极晶体管(IGBTs)
检测对象:绝缘栅双极晶体管
检测项目:高温阻断(HTRB)