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检测标准:半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管
检测对象:二极管
检测项目:正向压降V<Sub>F</Sub>
检测标准:半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管
正向电压 <I>V</I><Sub>F</Sub> GJB 128A-1997 《半导体分立器件试验方法》 GJB128A-1997 4011
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正向电压V<Sub>F</Sub> SJ/T 2215-2015 半导体光电耦合器测试方法
正向压降(V<sub>F</sub>) GB/T 4023-2015 半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管
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正向电流I<Sub>F</Sub> SJ/T 2215-2015 半导体光电耦合器测试方法
正向压降V<Sub>F</Sub> GB/T 6571-1995 半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管
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