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检测标准:半导体光电耦合器测试方法
检测对象:半导体分立器件和集成电路光电子器件
检测项目:正向电流(二极管)<I>I</I><Sub>F</Sub>
反向电流I<Sub>F</Sub> GB/T 4023-2015 半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管
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正向电压<I>V</I><Sub>F</Sub> GB/T 4023-2015 半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管
正向电压(输入二极管)<I>V</I><Sub>F</Sub> SJ/T 2215-2015 半导体光电耦合器测试方法
反向电流<I>I</I><Sub>R</Sub> GB/T 4023-2015 半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管
反向漏电流<I>I</I><Sub>R</Sub> GB/T 4023-2015 半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管
反向电流(<I>I</I><Sub>R</Sub>) GB/T 6571-1995 半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管
二极管正向电压<I>V</I><Sub>F</Sub> GB/T 4023-2015 半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管
二极管击穿电压<I>V</I><Sub>(BR)</Sub> GB/T 4023-2015 半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管
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正向电流传输比检测
正向电流传输比H<Sub>21E
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