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价格
实验室遍布全国,就近分配
可加急,最快1.5个工作日(特殊样品除外)
CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
电议(检测的标准和检测项目数量不同而价格不同)
24小时咨询电话
152-0173-3840
检测标准:半导体分立器件试验方法GJB 128-1986
检测对象:半导体分立器件
检测项目:热冲击(温度循环)
热冲击 ANSI/EIA-364-32 电子连接器及插座的(温度循环)测试程序 G-2014
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热冲击/循环 IPC-TM-650 1987 印制板温度循环 IPC-TM-650 (1987.12 B版本) 2.6.6
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热冲击试验 EIA-364-32G (2014) 电子连接器及插座的热冲击(温度循环)试验程序 EIA-364-32G (2014)
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