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CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
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检测标准:实现电学测试方法测量暴露冷却的发光二极管的真实热阻和阻抗 JESD51-51
检测对象:电子元器件
检测项目:热阻、结温分析
结温 JESD 51-14 :2010 具有单一散热路径的半导体器件结到壳热阻瞬态双界面测试法
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热阻结温 JESD51-1-1995 集成电路热测量法 电测试法(单半导体器件) 3
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