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价格
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可加急,最快1.5个工作日(特殊样品除外)
CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
电议(检测的标准和检测项目数量不同而价格不同)
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152-0173-3840
检测标准:半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路
检测对象:集成电路
检测项目:运算放大器允许的相位裕量和相角
输出高电平电压 GJB597/5A-1997 半导体集成电路运算放大器详细规范
咨询报价
共模抑制比 GJB597/5A-1997 半导体集成电路运算放大器详细规范
输出漏电流 GJB597/5A-1997 半导体集成电路运算放大器详细规范
开环电压增益 GJB597/5A-1997 半导体集成电路运算放大器详细规范
电源电压抑制比 GJB597/5A-1997 半导体集成电路运算放大器详细规范
输入失调电压 GJB597/5A-1997 半导体集成电路运算放大器详细规范
运算放大器允许的相位裕量和相角 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路
静态功耗 GJB597/5A-1997 半导体集成电路运算放大器详细规范
输出电压幅度 GJB597/5A-1997 半导体集成电路运算放大器详细规范
高电平输出电流 GJB597/5A-1997 半导体集成电路运算放大器详细规范
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运动速度检测
运动部件卡住检测
运动部件的可控性检测
运动部件的控制检测
运动部件的联锁检测
运动部件的风险检测
运动部件防护措施检测
运动零部件的可触及性检测
运动黏度(-40℃)检测
运用场景检测
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