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检测标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测对象:数字集成电路
检测项目:高阻态输出电流I<Sub>OZ</Sub>
输出高阻态时高电平电流 <I>I</I><Sub>OZH</Sub> SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
咨询报价
输出高阻态电流I<Sub>OZ</Sub> GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
输出高阻态电流<I> I</I><Sub>OZ</Sub> GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
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