针栅阵列式封装破坏性引线拉力试验检测

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针栅阵列式封装破坏性引线拉力试验检测

相关标准

检测标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法2028

检测对象：集成电路

检测项目：针栅阵列式封装破坏性引线拉力试验

检测标准：微电子器件试验方法和程序

检测对象：集成电路

检测项目：针栅阵列式封装破坏性引线拉力试验

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