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CMA、CNAS、CAL
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152-0173-3840
检测标准:半导体器件 第6部分:晶闸管
检测对象:半导体可控硅
检测项目:门极触发直流电压V<Sub>GT</Sub>
门极触发直流电流I<Sub>GT</Sub> GB/T 15291-2015 半导体器件 第6部分:晶闸管
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<I>R</I><sub>m</sub>、<I>F</I><sub>m</sub>、<I>F</I><sub>p0.2</sub>、<I>A</I><sub>gt</sub> GB/T 21839-2019 预应力混凝土用钢材试验方法
反向直流电流<I>I</I><Sub>R</Sub> GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法4016
<I>R</I><sub>m</sub>、<I>F</I><sub>m</sub>、<I>F</I><sub>p0.2</sub>、<I>A</I><sub>gt</sub> GB/T 5223-2014 预应力混凝土用钢丝
触发电压V<Sub>TR </Sub> GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
正向直流电压V<SUB>F GB/T 6571-1995 半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管
正向电压V<sub>F</sub>、V<sub>FM</sub> IEC 60747-2 半导体器件.分立器件.第2部分:整流二极管 (Edition3.0 2016-04) 6.1.2
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