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检测标准:半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管
检测对象:场效应晶体管
检测项目:静态漏-源通态电阻
检测标准:半导体器件 分立器件第8部分:场效应晶体管 GB/T 4586-94 第IV章 测试方法
检测对象:场效应管
静态漏-源通态电阻R<Sub>DS(on) GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管
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静态漏-源通态电阻 GB/T 4586-94 半导体器件 分立器件第8部分:场效应晶体管 第IV章 测试方法
静态漏—源通态电阻 GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范
静态漏-源通态电阻和断态电阻 GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管
静态漏-源通态电阻 R<SUB>DS(on)</SUB> GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管
静态漏-源通态电阻和断态电阻 GB/T 17573-1998 半导体器件 分立器件和集成电路 第1部分:总则
静态漏源通态电阻 GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管
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