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检测标准:半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法
检测对象:光电耦合器
检测项目:集电极发射极饱和电压(V<sub>CEsat</sub>)
集电极—发射极的饱和电压<I>V</I><Sub>CEsat</Sub> GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
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集电极-发射极饱和电压 V<SUB>CE(sat)</SUB> SJ/T 2215-2015 半导体光电耦合器测试方法
集电极发射极饱和电压(V<sub>CEsat</sub>) GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法
集电极-发射极饱和电压V<sub>CEsat<sub> GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
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集电极—基极截止电流检测
集电极与发射极间的饱和压降 V<
集电极反向漏电流检测
集电极发射极击穿电压检测
集电极发射极饱和电压<I>V</
集电极发射极饱和电压(V检测
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