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检测标准:半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
检测对象:半导体集成电路TTL电路
检测项目:负向阈值电压下的输入电流I<Sub>T-</Sub>
负向阈值电压下的输入电流I<Sub>T-</Sub> GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
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源栅阈值电压<I>V</I><Sub>GS(TO)</Sub> GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管
输入负向阈值电压V<Sub>IT</Sub> GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
输入负向阈值电压V<Sub>IT</Sub> SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
输入正向阈值电压V<Sub>IT+</Sub> SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
输入负向阈值电压VIT SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
正向阈值电压下的输入电流I GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
栅-源阈值电压(C型)(<I>V</I><Sub>GS</Sub><Sub>(</Sub><Sub>TO</Sub><Sub>)</Sub>) GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管
栅极-发射极阈值电压 <I>V</I><Sub>GE(th)</Sub> GB/T 29332-2012 半导体器件 分立器件 第9部分:绝缘栅双极晶体管(IGBT)
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