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检测标准:集成电路闩锁测试 AEC-Q100-004-REV-D, 2012
检测对象:电子元器件
检测项目:集成电路闩锁测试
检测标准:集成电路闩锁测试 JEDEC JESD78E,2016
抗静电能力(闩锁) JESD78E-2016 集成电路闩锁测试
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集成电路栓锁测试 JEDEC JESD78E-2016
静电放电敏感度测试/集成电路闩锁测试 JEDEC JESD78E-2016 集成电路闩锁测试
闩锁检测(Latch-up) IE 081-2020 工业级高可靠集成电路评价 第 16 部分: 高频射频识别 T/CIE 081—2020 5.9.16
闩锁检测(Latch-up) IE 071-2020 工业级高可靠性集成电路评价 第 6 部分: 蓝牙芯片 T/CIE 071—2020 5.4.16
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