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检测标准:半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
检测对象:晶体管
检测项目:饱和压降
检测标准:半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法
检测对象:光耦
集电极—发射极间饱和压降 MIL-STD-750F 半导体分立器件试验方法 :2012 3071
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集电极-发射极饱和压降 MIL-STD-750F 半导体分立器件试验方法 :2012 3405
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