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CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
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检测标准:温度偏置寿命实验 JESD22-A108F:2017 4.2.3.2
检测对象:集成电路
检测项目:高温工作寿命测试
检测标准:IC集成电路压力测试考核 JESD47K :2018 5.5 表 5-1
高温寿命 MIL-STD-202-108-2015 电子及电气零组件测试方法 全部
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