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检测标准:半导体光电耦合器测试方法
检测对象:半导体分立器件和集成电路光电子器件
检测项目:高电平电源电流<I>I</I><Sub>CCH</Sub>
输出高电平时电源电流I<Sub>CCH</Sub> SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
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