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CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
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152-0173-3840
检测标准:半导体分立器件试验方法 MIL-STD-750F:2012 3011
检测对象:晶体管
检测项目:集电极—发射极击穿电压
检测标准:半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
检测对象:双极型晶体管
检测标准:半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范
集电极-发射极击穿电压 GJB 128A-97 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97 3011
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