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实验室遍布全国,就近分配
可加急,最快1.5个工作日(特殊样品除外)
CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
电议(检测的标准和检测项目数量不同而价格不同)
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152-0173-3840
检测标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1032
检测对象:半导体分立器件
检测项目:高温寿命(非工作)(抽样方案)
稳态工作寿命(抽样方案) GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1027
咨询报价
高温寿命(非工作) GJB 601A-98 热敏电阻器总规范 GJB601A-98 4.6.25
1037间歇工作寿命(抽样方案) GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 1037
高温寿命(非工作)(抽样方案) GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1032
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