静态电源电流<I>I</I><I><Sub>+</Sub></I>检测

工作状态时<I>V</I><Sub>DD</Sub>电源电流<I> I</I><Sub>DD</Sub> SJ/T 10739-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理

室温拉伸 <i>R</i>_t0.5、<i>R</i>_p0.2、<i>R</i>_m、<i>R</i>_eL、<i>R</i>_eH、<i>A</i> ASTM E8/E8M-2011 金属材料抗拉试验方法

<I>R</I>_m、<I>F</I>_m、<I>F</I>_p0.2、<I>A</I>_gt GB/T 228.1-2010 金属材料 拉伸试验 第1部分:室温试验方法

维持状态时<I>V</I><Sub>DD</Sub>电源电流<I> I</I><Sub>DDS</Sub> SJ/T 10739-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理

抗拉强度<i>R</i>_m、下屈服强度<i>R</i>_eL、上屈服强度<i>R</i>_eH、断后伸长率<i>A</i>、规定塑性延伸强度<I>R</I>_p0.2 GB/T 228.1-2010 金属材料 拉伸试验 第1部分:室温试验方法

<I>R</I>_m、<I>F</I>_m、<I>F</I>_p0.2、<I>A</I>_gt GB/T 21839-2019 预应力混凝土用钢材试验方法

<I>R</I>_m、<I>F</I>_m、<I>F</I>_p0.2、<I>A</I>_gt GB/T 5223-2014 预应力混凝土用钢丝

备用消耗电流 <I>I</I><Sub>D</Sub>和备用消耗电流变化 △<I>I</I><Sub>D</Sub> GB/T 4377-1996 半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理