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检测标准:半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 方法1026
检测对象:电子元器件
检测项目:稳态工作、间歇寿命
检测标准:电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法108
检测标准:微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1005.1,1006
1036间歇工作寿命 GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 1036
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间歇工作寿命 GJB 128A-97 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97 1036
稳态工作、间歇寿命 GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法108
稳态工作、间歇寿命 GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 方法1026
间歇工作寿命 GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法 1037
稳态寿命/间歇寿命/模拟寿命老炼测试 GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1005/1015/1016
稳态寿命/间歇寿命/模拟寿命老炼测试 MIL-STD-883L 国防部标准微电路测试方法 -2019 方法1015
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稳态交流电流试验检测
稳态功率检测
稳态功率试验检测
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稳态加速度(非破坏性的)检测
稳态加速湿热检测
稳态寿命检测
稳态寿命/间歇寿命/模拟寿命老炼
稳态寿命试验检测
稳态工作检测
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