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检测标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测对象:半导体集成电路TTL电路
检测项目:结电容C<Sub>j
石油烃(C<sub>6</sub>-C<sub>9</sub>、C<sub>10</sub>-C<sub>40</sub>) US EPA METHOD 8015C:2007 《气相色谱法测定非卤化有机化合物》
咨询报价
总石油烃(C<sub>10</sub>-C<sub>40</sub>) ISO 16703-2004 土壤质量 用气相色谱法测定C10-C40范围内的烃含量
石油烃(C<sub>10</sub>~C<sub>40</sub>) 16703-2011 土壤中石油烃(C<sub>10</sub>~C<sub>40</sub>)含量的测定 气相色谱法 ISO
结电容(C<Sub>iss</Sub>,C<Sub>oss</Sub>,C<Sub>rss</Sub>) MIL-STD-750F 半导体器件的试验方法 标准试验方法 MIL-STD-750F 3431,3433
石油烃(C<Sub>10</Sub>-C<Sub>40)</Sub> ISO 16703:2011 土壤质量 石油烃(C<Sub>10</Sub>-C<Sub>40</Sub>)含量的测定 气相色谱法 EN
结电容(C<Sub>iss</Sub>,C<Sub>oss</Sub>,C<Sub>rss</Sub>) GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管
石油烃(C<Sub>10</Sub>-C<Sub>40</Sub>) 16703-2011 土壤中含量的测定 气相色谱法 ISO
石油烃总量(C<Sub>10</Sub>-C<Sub>40</Sub>) ISO 16703-2004 土壤质量 用气相色谱法测定C10-C40范围内的烃含量
结电容C<Sub>j SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
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结构:非实心插销的试验检测
结果判别(验证外壳防护等级)检测
结果检查检测
结果表达检测
结果计算检测
结栅型的栅极截止电流检测
结温检测
结珊型的栅极截止电流检测
结电容检测
结电容(C<Sub>iss</S
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