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价格
实验室遍布全国,就近分配
可加急,最快1.5个工作日(特殊样品除外)
CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
电议(检测的标准和检测项目数量不同而价格不同)
24小时咨询电话
152-0173-3840
检测标准:半导体器件的试验方法 标准试验方法 MIL-STD-750F 3041.1
检测对象:半导体晶体管(达林顿,三极管模块,开关管)
检测项目:集电极-发射极截止电流I<Sub>CEO </Sub>
集电极-发射极截止电流 <I>I</I><Sub>CEO</Sub> SJ/T 2215-2015 半导体光电耦合器测试方法
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集电极-发射极截止电流I<Sub>CEO SJ/T 2215-2015 半导体光电耦合器测试方法
集电极-发射极截止电流<I>I</I><Sub>CEO</Sub> 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 GB/T4587-94
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