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检测标准:半导体光电耦合器测试方法
检测对象:半导体分立器件和集成电路光电子器件
检测项目:集电极-发射极饱和电压 <I>V</I><Sub>CE(sat)</Sub>
集电极-发射极饱和电压<I>V</I><Sub>CE(sat)</Sub> GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
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集电极-发射极饱和电压<I>V</I><Sub>CE(sat)</Sub> SJ/T 2215-2015 半导体光电耦合器测试方法
集电极-发射极饱和电压 V<SUB>CE(sat)</SUB> GB/T 29332-2012 半导体器件 分立器件 第9部分:绝缘栅双极晶体管(IGBT)
集电极-发射极饱和电压(V<sub>CE(sat)</sub>) GB/T 29332-2012 半导体器件 分立器件 第9部分:绝缘栅双极晶体管(IGBT)
集电极—发射极的饱和电压<I>V</I><Sub>CEsat</Sub> GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
集电极-发射极饱和电压 <I>V</I><Sub>CE(sat</Sub><Sub>)</Sub> GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
集电极-发射极饱和电压 V<SUB>CE(sat)</SUB> SJ/T 2215-2015 半导体光电耦合器测试方法
集电极-发射极击穿电压(基极开路)<I>V</I><Sub>(BR)CEO</Sub> GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 3011
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