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检测标准:半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管
检测对象:场效应管
检测项目:零栅压时的漏极电流<I>I</I><Sub>DSS</Sub>
I<Sub>B</Sub>=0时的集电极发射极截止电流<I>I</I><Sub>CEO</Sub> GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
咨询报价
I<SUB>DSX</SUB>:漏极关断电流/I<SUB>DS*</SUB>:漏极漏电流 IEC 60747-8-2010 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管
栅—源短路时的漏极电流<I>I</I><Sub>DSS</Sub> GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管
饱和漏极电流<I>I</I><Sub>DSS</Sub> GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管
截止态漏极漏电流<I>I</I><Sub>D</Sub>(off) GB/T 14028-2018 半导体集成电路 模拟开关测试方法
I<Sub>E</Sub>=0时的集电极基极截止电流<I>I</I><Sub>CBO</Sub> GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
截止态漏极漏电流 <I>I</I><Sub>D(off)</Sub> GB/T 14028-1992 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理
I<Sub>C</Sub>=0时的发射极基极截止电流<I>I</I><Sub>EBO</Sub> GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
(绝缘栅增强型I<sub>DSS</sub>)或(结栅型,绝缘栅耗尽型):漏极关断电流I<sub>DSX</sub> IEC 60747-8 半导体器件.分立器件.第8部分:场效应晶体管 (Edition 3.0 2010-12) 6.3.3
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